滨松光子EMMI/OBIRCH 微光显微镜PHEMOS-X_价格-福芯科技(香港)有限公司

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EMMI/OBIRCH 微光显微镜

PHEMOS--X C15765-01

PHEMOS-X 是一种高分辨率发射EMMI显微镜，可通过检测由半导体器件缺陷引起的微弱光发射和热发射来精确定位半导体器件中的故障位置。由于PHEMOS-X可与通用探针结合使用，您可以使用您正在使用的样品设置来完成各种分析任务已经熟悉了。安装可选的激光扫描系统可以获取高分辨率图案图像。不同类型的检测器可用于各种分析技术，例如发射分析、热分析和IR-OBIRCH 分析。 PHEMOS@-X支持从探测器插座板到大型 300 mm 晶探测器

福芯科技(香港)有限公司为您提供滨松光子EMMI/OBIRCH 微光显微镜PHEMOS-X，滨松光子PHEMOS-X产地为日本，属于其它显微镜，除了EMMI/OBIRCH 微光显微镜的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它显微镜,FORTEC客服电话400-860-5168转4585，售前、售后均可联系。

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型号：	PHEMOS-X
产地：	日本
品牌：	滨松光子
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