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仪器操作 德国徕卡Leica 8寸晶圆半导体检测显微镜图像分析系统介绍
2024-43-08

视频详情:德国徕卡Leica 8寸晶圆半导体检测显微镜图像分析系统介绍, 提供了全新的光学设计,如理想的 宏观检查模式 或者倾斜紫外光 (OUV, 随检UV 选择) 不但提高了分辨能力,同时也增加了观察 8’’/200 毫米直径大样品 时的产量。该机照明 基于**的 LED 科技 ,一体化整合在显微镜机身上。 低热辐射效应和一体化内置技术确保了显微镜四周空间具有 理想化的空气环流。 LED的超长使用寿命和低

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