大气颗粒无机元素测量 能量色散X射线荧光光谱仪 Apollo 以色列

2024/03/18   下载量: 0

方案摘要

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应用领域 环保
检测样本 空气
检测项目 颗粒物, (类)金属及其化合物>PM2.5, 其它
参考标准 HJ 829-2017《环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 IO - 3.3

本文介绍了以色列Xenemetrix公司Apollo设备在大气颗粒物无机元素检测中的相关解决方案。 能量色散型谱仪在不破坏样品膜的前提下能够提供非常高效和准确的检测结果。 其实际检测符合国内及国外I.O - 3.3标准。

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Apollo概述

       Apollo专用于环境空颗粒中无机元素的分析,且满足美国EPA相关空气质量监管要求,可对大气颗粒中所含有的近60种元素进行定性及定量分析。Apollo提供快速、准确的测量结果,简单易用,并具备极低的探测限。Apollo能够无损分析空气滤膜,并对滤膜样品进行定性定量分析。仪器采用高功率及二次靶技术,通过设置不同的电压及电流激发二次靶,以提供单色的激发光源,增加信噪比,达到极佳的检测限及灵敏度。

       X射线荧光(XRF)光谱是具有挑战性和令人兴奋的领域,并在分析领域中有着极大的优势。其优点是样品制备简单,同时能够快速、无损的对不同基质的样品进行多元素同时分析,被测样品种类包含液体、固体、浆料、粉末、糊剂、薄膜,空气滤膜等。XRF技术所需要的样品制备量极少,并支持几乎所有类型和形状的样品。

       ED-XRF技术应用于测量和分析多种元素。元素周期表中的绝大多数元素均可以通过该技术进行分析测量,测量元素含量范围可从亚ppm100%。常用于监控产品中或制造过程中或微量添加剂的成分含量。

       Xenemetrix致力于提供高性能,易用耐用且高性价比的ED-XRF仪器设备,满足各行各业的客户实验室级别的应用检测需求。

       Xenemetrix的专业应用团队支持根据客户特殊的要求定制,改进和优化配置,为客户提供完美的应用解决方案。

       Xenemetrix实验室级荧光光谱仪Apollo可以对空气颗粒滤膜样品中的元素,进行超高灵敏度分析检测,检测含量范围可达亚ppm级别。测量腔室可容纳不同尺寸和形状的被测样品,并可根据客户要求定制,从而保证被测样品膜的无损检测。


Element

MDL (ng/cm^2)

Xenemetrix  Apollo

EPA Compendium Method IO-3.3

Al

0.97

17.6

Na

5.10

5.3

Te

4.99

26.3

Zn

0.90

1.0

Pb

0.82

1.5

Ca

1.59

9.0

Cr

1.35

3.0

Ni

0.45

0.6

Ga

1.50

1.6

As

0.64

0.8

V

1.29

5.3

Cs

3.44

48.9

Br

0.26

0.6

Cd

2.03

22.0

Se

0.13

0.7

Au

1.70

1.7

Co

0.27

0.4

Ge

0.55

1.1

Rh

6.77

25.9

La

4.00

70.6

Mg

2.90

3.2

K

1.16

6.3

Mn

0.80

0.8

Fe

0.32

0.7

Rb

0.50

0.7

I

2.37

35.5

P

2.50

2.6

S

2.42

2.6

Cl

4.67

4.8

Sc

1.40

1.5

Ti

1.10

16.9

Si

3.80

8.0

Cu

0.32

0.7

Sr

0.70

1.1

Y

1.13

1.2

Zr

0.82

1.2

Mo

0.82

1.6

Pd

2.30

22.9

Ag

17.11

20.2

Sn

17.00

30.5

Sb

9.90

31.4

Ba

18.00

51.8

W

2.00

3.4

Hg

0.35

1.5


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