Xenocs赛诺普小角X射线散射仪对各种复杂的纳米颗粒样品进行表征

2024/05/30   下载量： 2 次

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用SAXS技术对各种复杂的纳米颗粒样品进行表征，包括单分散系统（标准偏差小或分布广）以及不同比例的双峰混合物。

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纳米颗粒（NPs）在涂料、化妆品到药物递送系统等众多应用中都扮演着重要角色，即使在极低浓度下也被广泛使用。最终产品的功效和性能与纳米颗粒的化学成分、形状大小和特定表面积密切相关。因此，准确控制和量化这些关键参数对于优化产品质量和性能至关重要。

 

小角X射线散射（SAXS）是一种无损技术，只需进行最少的样品制备就能确定材料的结构。与许多其他表征方法不同，SAXS能够提供较大样品的具有统计学意义的信息。这使SAXS成为局部成像技术的理想补充，帮助研究人员全面了解纳米颗粒的行为和特性。

 

此外，SAXS特别适用于研究纳米颗粒的结构，可以提供关于其尺寸分布、形状、内部结构和颗粒间相互作用的宝贵见解。这一强大技术可对粒径在1到250纳米之间的纳米颗粒进行结构表征。此外，通过使用超小角X射线散射（USAXS）技术，可以表征粒径达2-3微米的颗粒。传统方法通常难以准确表征纳米颗粒的多分散混合物，而SAXS则能够准确可靠地提供单分散和多分散纳米颗粒系统的尺寸分布信息。最近的实验室研究[1]和专门的ISO标准[2]的出现证明了该技术的准确性和可追溯性。此外，SAXS能够进行原位和动力学研究，使其成为在纳米颗粒尺寸分析方面的标准化的优秀技术。

 

在本应用手册中，我们展示了如何利用SAXS技术对复杂的纳米颗粒样品进行表征，包括单分散系统（标准偏差小或分布广）和不同比例的双峰混合物。


文献贡献者

赛诺普（苏州）科学仪器有限公司
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