方案摘要
方案下载应用领域 | 造纸/印刷/包装 |
检测样本 | 包装 |
检测项目 | |
参考标准 | GB9639 |
须能将落镡置于下落高度0.66+001m ( A法)或150土001m (B法)处。该高度指落僳冲击面到试样表面的垂直距离.
本标准规定了在给定高度的自由落镡冲击下,铡定50%塑料薄膜和幕片试样破损时的能量。以冲击破损质量表示。
本标准适用于塑料薄膜和厚度小于Imm的薄片。
3、术语、符号
3.1冲击破损质量
在规定的试验条件下,有50%试样破损时的落体质量,以M表示。
3.2落体质量
落傈、砝码和锁紧环的质量之和。
4试验方法概要
本标准包括二种试验方法: A法及B陆。A法适用于冲击破损质量为S0g~ 200g的材料:珐适用于
冲击破损质量为300g~ 2000g的材料.
5设备
设备基本构造如图1所示.
检测仪器:
FB-30J落镖冲击试验仪
5.1试样夹具
采用内径125土2mm的二个环形夹具。下夹具固定在水平面上,上夹具(动夹具)与下夹具须保持平行.夹具工作压力不小于300KPa.
5.1.1环形夹具与试样接触表面须附有橡胶垫圈. 本设备推荐采用厚度3士lmm、肖氏硬度A为50~ 60、内径125土2mm.外径150士3mm的橡胶垫圈。
5.2电磁铁
须能吸住或放开质量为2000g的落体。
5.3定位装t
须能将落镡置于下落高度0.66+001m ( A法)或150土001m (B法)处。该高度指落僳冲击面到试样表面的垂直距离.
5.4缓冲和防护装置
贞能保护操作人员的安全及防止损坏落镖冲击表面.
检测仪器:
试验开始时,首先选择试验方法,估计一个初始质量和Δm值,进行试验,如果第一个试样破损,用砝码Δm减少落体质量;如果第一个试样不破,须用砝码Δm增加落体质量依此进行试验。总之,利用砝码减少或增加落体质量,取决于前一个试样是否破损。20个试样试验后,计算破损总数N,如果N等于10,试验完成;如果N小于10,补充试样后,继续试验直到N等于10;如果N大于10,补充试样后,继续试验直到不破损的总数等于10为止,最后计算冲击结果。
根据材料的特性选择试验方法。
7.1将试样紧置于环形夹具之间。
7.2将砝码加置落 面柄上,并装上锁紧环.使落体质接近于预计的冲击破损质t.
7.3 选择的砝码OM座与试样的冲击强度相适应。通常△M值约等于5% ~15%冲击破损质M.砝码须选择3~6个.
7.4使电磁铁通电,将落的图柄垂直插人磁性连接器里,并调准落体下落高度。使电磁铁断电,落镖即自由下落。如果落舞由试样表面弹开,应提住它。
7.5 检查试样任何滑动的盗象。如果有滑动,该试验结果应會弃。
列举二种检查滑动的方法:
a.在落镖下落前,沿上夹具内壁,在试样表面用圆珠笔面一个国重,但对试样只施加圆珠笔本身的压力。待落傈下落后,婚上夹具内壁,在试样表面用另一颜色的笔百一周面,如果在四周的任一位置出现双线,则表明存在滑动:
b.对于采用橡胶垫圈贴细砂布或砂纸的方式夹紧试样,只露检查冲击后试样夹紧部位的划痕。如果有,则表明存在滑动。
7.6 在试样背面照明的条件下,检查试样是否破损(即穿透)。并将结果记录在格纸上.详见图2.
其中,O表示不破损、X表示破损。
7.7如果第一个试样破损,用砝码△M减少幕体质量。如果第一个试样不破,须用砝码OM增加落体质量。依此继续进行试验。总之,利用砝码减少或增加落体质量,取决于前一个试祥是否破损。
7.8 20个试样试验后,计算破损的总数N。如果N等于10, 试验完成。如果N不等于10试验应按如下进行。
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