资料摘要
资料下载X射线吸收精细结构（XAFS）是一种发展于同步辐射技术的结构分析方法，通过X射线对物质进行结构探测后得到的一类谱线。主要是指吸收边附近和吸收边之后的吸收系数随能量的变化，从中得到电子和原子结构的信息，是用于描绘局部结构最强有力的工具之一。 本文介绍包括XAFS技术特点、发展、主要测量方法等
文献贡献者
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询
