型号: | TEM多场测量系统 |
产地: | 安徽 |
品牌: | 泽攸科技 |
评分: |
![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统,该产品是原位透射电子显微镜实验系统,使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境(包括力、热、光、电等),从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
性能指标
透射电镜指标:
● 兼容指定电镜型号及极靴;
● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);
电学测量指标:
● 包含一个电流电压测试单元;
● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;
● 电流分辨率:优于100 fA;
● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;
● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。
扫描探针操纵指标:
● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
光纤指标:
● 多模光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;
● 可选光纤探针、平头光纤;
● 配备快速SMA接头、FC接头;
加热指标:
● 温度范围:室温到1000 ℃;
● 温度准确度优于 5% ;
● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。
产品特色
可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加至多四种激励,实现多种复杂的测试功能,完成以往无法实现的研究。
(1)高温拉伸/压缩(加热芯片+电学STM探针);
(2)热电子发射/场发射(加热芯片+电学STM探针);
(3)三端器件测量(电学芯片+电学STM探针);
(4)电致发光现象研究(电学芯片+光学STM探针);
(5)光电现象研究(电学芯片+光学STM探针)。
以上就是泽攸科技对PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询(微信同号)
安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。
公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:
(1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;
(2)ZEM15台式扫描电子显微镜。
PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。
目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询