型号: | 一六 XAD *200 |
产地: | 江苏 |
品牌: | 一六仪器 |
评分: |
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XAD是一款上照式全元素光谱分析仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
微小样品检测:测量面积小至0.008mm2
变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm
自主研发的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可准确测量
先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限
高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器
X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置
上照式设计:实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量
可编程自动位移:选配自动平台,X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量
多准直器自动切换
1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)
2. 成分检出限:1ppm
3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
4. 涂镀层检出限:0.005μm
5. 测量直径小至□0.1*0.3mm(测量面积小至0.03mm2)
标配:测量直径小至0.3mm(测量面积小至0.07mm2)
6. 对焦距离:0-30mm
7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*150mm
8. 仪器尺寸:550mm*760mm*635mm
9. 仪器重量:100KG
10. XY轴工作台移动范围:100mm*150mm
11. XY轴工作台承重:15KG
广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。
选择一六仪器的四大理由:
1.一机多用,无损检测(涂镀层检测-环保RoHS-成分分析)
2.测量面积小至0.002mm2
3.可检测凹槽0-90mm的异形件
4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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