一六仪器XTU-4C下照式设计镀层测厚仪

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm

• 微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件

• 高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性

• 变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm

• 对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品

1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）

2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）

3. 厚度检出限：0.005μm

4. 成分检出限：1ppm

5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）

6. 对焦距离：0-30mm

7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量：45KG

10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm

11. XY轴工作台承重：5KG

广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。

选择一六仪器的四大理由：

1.一机多用，无损检测

2.测量面积小至0.002mm2

3.可检测凹槽0-30mm的异形件

4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测