资料摘要
资料下载XAD-200 是一款全元素上照式荧光光谱仪，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足 RoHS 有害元素检测及成分分析，搭载全自动平台实现 XYZ 轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入先进的 EFP 算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。
文献贡献者
XU-100推荐书
简介：XU-100 是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，C 型开槽设计样品腔，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
XTU-50A光谱测厚仪推荐书
简介：XTU-50A 是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，C 型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
XTU-4C光谱测厚仪推荐书
简介：XTU-4C 是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，C 型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
XTD-200光谱测厚仪推荐书
简介：XTD-200 是一款专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析的全自动光谱仪。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
XD-1000光谱测厚仪推荐书
简介：XD-1000 是一款专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析光谱仪。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
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