XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最近测距光斑扩散度10%以内,凹槽深度测量范围可达030mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。
① 下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
② 高精密微型移动滑轨:快速精准定位样品。
③ 微焦X射线装置:最近测距光斑扩散度10%以内,可进行各类电镀层膜厚检测。
④ 高效率正比接收器:即使测试微小样品,几秒钟也能达到稳定性。
⑤ 变焦装置算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm。
⑥ 先进的EFP算法:多层多元素,包括有同种元素在不同涂镀层的检测,都可以快、准、稳的做出数据分析。
XU-100光谱测厚仪选配附件有哪些?
① 电镀液测试附件:整套含两个测量杯和一卷测试膜。可用于多品牌XRAY测厚仪上使用,高纯元素本底,提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯,严格控制了容量和溢出物的处理,用来测试药水溶液中金属离子的浓度,使用方便简捷。
② 配件箱:其中包括仪器相关配线、密码狗、十二元素片、选配标准片、网圈等。
③ 测厚仪标准片:校正片又称标准箔、膜厚片,通用于所有x射线镀层测厚仪,本公司标准片规格齐全,可送检第三方出具CNAS证书,为仪器精准测试保驾护航。
以上就是X荧光光谱测厚仪厂家一六仪器对于X荧光光谱测厚仪的相关介绍,如果你想要了解更多内容,欢迎联系我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务,在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上,都具备更佳的表现。
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