不同的膜厚测试方法都有哪些特点？

江苏一六仪器有限公司

2022/08/29 17:30

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　　市面上对于膜厚测试的方法有很多，这些方法中有无损测试也有破坏性测厚，这些膜厚测试方法都有各自的特点。很多人对于膜厚测试都不太了解，今天我们就来跟大家说一说不同膜厚测试的方法都有哪些特点吧。

　　1.金相显微镜法：破坏性测厚，耗时长，价格昂贵，分析电镀品的品质和找出缺陷(如气孔、裂纹、夹杂物、剥皮等)产生的原因。

　　2.库伦法：破坏性测试，耗时长，消耗电解液，测量范围小。

　　3.磁性法：便携式，精度差，应用范围窄，只能测试铁基非磁性有色金属镀层厚度。

膜厚测试

　　4.电涡流法：便携式，精度差，应用范围窄，适合非磁性底材上非导电涂层如油漆搪瓷塑料等测量。

　　5.X光射线法：精确，测量镀层范围广，能解决细微面积及超薄镀层的测量。不但能快捷广泛测量膜厚，还能分析成分。近年来国内其他厂商得到国外Fp算法并且学会了应用，目前有二、三家可以检测简单的多层镀层，但是最小测量面积都在直径0.5mm以上，无法变焦只能通过对焦应付一些凹凸弯曲落差不大的样品，也无法测试重复镀层和轻元素。一六的算法可分析超复杂镀层及同元素多层镀层。

　　以上就是膜厚测试仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容，如果大家想要了解更多关于膜厚测试仪的内容，欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。

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