型号: | S4 TStar — TXRF |
产地: | 德国 |
品牌: | |
评分: |
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离子体发射光谱法(ICP-OES)或质谱法(ICP-MS)的理想的替代性方法°现在,S4TStar在台式TXRF光谱仪的性能、自控和质量 方面开创了新的标准。数十年来,X射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb量级。TXRF 扩展ZXRF的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。因此,TXRF成为原子吸收光谱法(AAS)以及电感耦合等
元素范围 | Mo靶:铝到铀(Nb-Ru除外) W靶:钾到铀 |
浓度 | ppb 到 100% |
检测限值 | Ni< 1 pg |
样品类型 | 液体、悬浮液、粉末、颗粒物、金属、薄层、组织、晶片、 滤片等 |
样品量 | 液体和悬浮液,从1微升到50微升 颗粒物,直径100微米以下;粉末,10微克以下 |
样品更换器 | 自动样品更换器,10个托盘 自动托盘检测,用于鉴别样品类型 |
容量 | 样品托盘1: 30毫米盘片,最多90个盘片 样品托盘2:显微镜载玻片,最多30个载玻片 样品托盘3: 2英寸晶片,最多50个晶片 样品托盘4:矩形,小于54毫米,最多50个样品 样品托盘5:用户定义 |
X射线管 | 最高50W,金属陶瓷,最高50 Kv, 1mA,空气冷却 |
X射线光学件 | 多层膜单色仪 |
激发模式 | Mo-K, 17.5 Kev W■可致辐射,35 Kev; W-L, 8.4 Kev Cu-K, 8.0 Kev Cr-K, 5.4 Kev |
检测器 | 珀尔帖冷却XFIash®硅漂移检测器 不需要液氮 探测器有效面积:60 mm2,选配:100 mn? 能量分辨率<149ev (在1 OOKcps (锭Ka),) |
接口 | 通过TCP/IP进行数据交换(RJ45电缆) |
电源 | 100/240 V, 50/60 HZ |
尺寸 | 528mmx693mmx512mm (高x宽x深) |
重量 | 80 Kg |
附件 | 清洗盒,用于样品载体、存放盒 TXRF起动器套件(移液管、尖头、试管、研钵、药匙) |
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