优可测Atometrics白光干涉仪AM-7000系列ER-230-光学薄膜测量
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优可测Atometrics白光干涉仪AM-7000系列ER-230-光学薄膜测量

报价：面议
型号： AM-7000系列ER-230
产地： 广东
品牌： 优可测
评分：
优可测
金牌会员 丨 3年
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核心参数
产品详情
简介
白光干涉仪是一种高精度测量仪器，能够实现对物体表面粗糙度、轮廓、三维形貌、台阶高度、平面度等参数的精确测量，其精度可达亚纳米级别。该设备应用广泛，包括新能源、半导体、精密加工、航空航天、3C产品等多个领域。

白光干涉仪是一种精密测量仪器，能对物体表面的粗糙度/光洁度/洁净度、轮廓、微观三维形貌、PV值、台阶、高度、平面度、盲孔等进行高精度测量。

白光干涉仪的测量精度很高，精度可以达到亚纳米级别。以大量程、高精度的高速压电陶瓷单元驱动的白光干涉仪精度高达0.03nm，扫描速度高达400μm/s。它应用的行业很广泛，可应用于新能源、半导体、精密加工、精密光学、航空航天、3C产品、材料、液晶等领域。

AM应用示例.png


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售后服务
  • 产品货期： 80天
  • 培训服务： 安装调试现场免费培训
  • 维修响应时间： 2天内
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