优可测新一代产品上市丨创新永不止步
10月31日,国产工业三维视觉检测品牌“优可测Atometrics”全新一代测量产品上市。本次上市新品分别是AM-7000白光干涉三维形貌测量系统、AR-7000线激光三维测量传感器、AP-5000光谱共焦位移传感器等产品。
作为行业同类进口仪器的“替代者”,优可测专注于提供智能制造和科学研究过程中高精度3D视觉检测方案与技术,在整机稳定性、分析精度、测量效率、多功能化等关键性能上取得突破。
AM-7000白光干涉三维形貌测量系统
AM-7000白光干涉三维形貌测量系统
优可测 AM -7000系列广泛用于半导体、光学、PCB、材料、3C制造、航空航天、刀具、医疗等行业领域,提供粗糙度、台阶、微观形貌、三维形貌比对、高度、平面尺寸等的测量,具备以下优势:
①.精确捕捉,超高精度 微观D形貌的能力
AM-7000可用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级别测量,以“面”的形式获取表面3D形貌;通过专用软件对3D形貌进行处理和分析,最高RMS重复性可达0.002nm。
超高速 极大提高测量效率,可用于自动化产线
②.AM-7000搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件;最高扫描速度400μm/秒, 3200Hz;
③. 大视野高精度 大视野、大范围测量
任意放大倍率下均可获得<1nm的检测精度,即使范围超过镜头单视野的被测样品,可通过拼接方式测量实现高精度测量。
④. 丰富的测量工具,从容应对各种行业应用
涵盖市场上通用的国际标准测量工具,丰富工具可供选择使用,高效率轻松分析3D数据
AR-7000线激光在线三维测量传感
AR-7000线激光三维测量传感器
AR-7000线激光三维测量传感器是优可测自主研发的在线三维检测国产设备,广泛应用于新能源、3C消费电子、轨道加工、汽车及零部件、金属加工等行业领域,提供3D轮廓、高度差、平面度、共面度、尺寸、图形等在线测量及分析能力。
①3840 point 极致的高精度测量
重复精度高达0.4um 高质量的3D图像
② 丰富的软件功能
轮廓测量-3D测量 多头拼接 外观检测 拖拽式编程
③ 专业技术团队支持
自主可控的核心器件 10年以上3D服务团队 货期短至7天内
AP-5000光谱共焦位移传感器
AP-5000光谱共焦位移传感器
AR-5000光谱共焦位移传感器是采用同轴彩色共焦技术原理,广泛应用于半导体、新能源、3C消费等行业领域.对不同材质产品均能稳定测量膜厚、平面度、轮廓等功能。
在膜厚、跳动、定位、曲面等特定应用上具备独特优势。
① 不受材质影响,实现稳定测量
玻璃、橡胶、金属、膜、镜面体
② 大角度特性
±48
③ 尺寸小
测量单元直径<10mm
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