视频详情：优可测薄膜厚度测量仪AF Mapping系列： Mapping系列可预设测量程序， 自动进行多点测量； 单点测量速度＜0.5s； 测量过程中会自动计算最优路径； 内置氘灯＋钨卤素灯， 波长范围180nm-2400nm； 兼容2-12寸的晶圆，可支持客制化。
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