| 型号： | DR-HAST350B |
| 产地： | 广东 |
| 品牌： | 德瑞检测 |
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HAST/HALT试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。
高压加速老化试验箱采用最新优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。
hast高加速热老化试验箱 DR-HAST350B技术参数：
1.1. 产品型号：DR-HAST350B
1.2. 内箱尺寸：Φ300×D 450 （mm）
1.3. 外箱尺寸约：W600XH920XD690（mm）
1.4. 温度范围：A105℃ → +135℃、B105℃ → +147℃
1.5. 温度波动度：≤±0.5℃.
1.6. 温度均匀度：≤±2.0℃.
1.7. 湿度范围：75% ～ 100 %R.H .
1.8. 湿度均匀度：≤±3.0% R.H.
1.9. 压力范围 ：0.2～2㎏/㎝2 （箱内压力）
1.10. 升温时间：常温 → + 135℃ 约50 min .
1.11. 升压时间：常压 → + 2㎏/㎝2 约45 min. 外部气源加压：约5 min
1.12. 偏压端子 12组含偏压端子
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