GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

2023-08-30 11:07  下载量:25

资料摘要

资料下载

1范围 GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化——双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化——双液槽法试验时,优先采用空气-空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次~10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。 本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明,本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22—2002基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.22—2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 (IEC 60068-2-14:1984,IDT) IEC 60749-3半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

资料下载

文献贡献者

相关资料 更多

相关产品

当前位置: 德瑞检测 资料 GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

关注

拨打电话

留言咨询