Nanotest热成像法缺陷分析仪TIFAS IR_价格-上海初炙仪器设备有限公司

产品详情

当热量从器件发热点（源）向环境中传递过程中，偶尔会遇到一些热的阻碍物，通常这些热阻碍物会非常严重的影响器件的可靠性。通过直接观察热的产生和其传递的路径是发现这些缺陷症状的最有效方法。

TIFAS IR是一个高度集成的桌面型红外热成像法失效分析仪，可应用于几乎所有材料的失效分析。通过观察电子器件、系统、复合物、多层聚合物或烧结零配件的全波段光谱来判断其综合结构，如杂质、缺陷以及形貌等。

技术参数：

测试时间：1-10 s

IR相机像素：382*288px (可提供更宽范围)

观测区域：95 mm x 123 mm(可提供更宽范围)

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上海初炙仪器设备有限公司为您提供Nanotest热成像法缺陷分析仪TIFAS IR，NanotestTIFAS IR产地为德国，属于其它热分析仪，除了热成像法缺陷分析仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它热分析仪,Nanotest客服电话，售前、售后均可联系。

售后服务

Business information

工商信息

信息已认证

企业名称: 上海初炙仪器设备有限公司
企业类型: 有限责任公司(自然人独资)
信用代码: 91310115MA1HABE59B
成立日期: 2018年11月08日
注册资本: 人民币500.0000万元整
经营范围: 实验室设备、环保设备、仪器仪表、电子产品的销售,从事化工、能源、机电、电子、新材料科技领域内的技术开发、技术咨询、技术服务、技术转让,从事货物及技术进出口业务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)

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