| 型号： | THCK-04 |
| 产地： | 江苏 |
| 品牌： | 谱量光电 |
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表面综合分析测试探针台产品简介
·整体集成度高，且测试方便简单，底座行程大，弥补了基础型的缺陷，可以满足多种测试应用，且可以升级射频探针台；优点：高性价比，应用面广，稳定性高；应用：一般用在高校/研究所科研实验是居多，以及科研型单位研发部；
表面综合分析测试探针台产品优势
两边半圆形探针架，可以放置最多6个探针座，且方便放置探针卡集成4路吸附开关，方便吸附；
可用于12寸以内样品测试XY行程115mmX115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调；
1微米以上电极/PAD使用；
可用于硅封装的内部观测和光谱特性分析，需要红外光源和红外摄像机；
有效像素2000万，有效像素1600 (H)*1200 (V) 可以拍照录像，也可以连接电脑；
HDMI输出支持: 1280*1024 (默认)、1680X1050、1440*900；
选用2X，5X，10X,20X，50X四种物镜,工作距离分别是: 34.6mm，45mm，34mm;30.8mm，20.5mm，鼻轮支架带五孔鼻轮
集成高精度高稳定性手动位移台,XYZ行程50mm，精度1um；
整体交叉滚珠导轨，超高精度，超高稳定性；
最大电压 1400V，阻抗 50 欧姆XYZ 轴行程分别是 13mm行程；
位移放置:XYZR四轴调节XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调；
整体位移精度1um；
表面综合分析测试探针台模块介绍
表面综合分析测试探针台通用参数
样品台尺寸 4英寸 | 样品台行程 XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调 |
整体位移精度 1μm（可定制） | 光学放大倍数 270倍高清（体式显微镜） |
漏电精度 100fA | 针座精度 3μm（可升级1μm/0.5μm） |
接口形式 BNC/三同轴接口 | 背电极 可引出背电极 |
针座数量 标配2个（可升级到6个） |
产品应用
多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等
产品示意图
谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。
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