| 型号： | YP- XM |
| 产地： | 山东 |
| 品牌： | 优云谱 |
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优云谱小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。
这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。
应用广泛：
1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。
2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期：
3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。
4、千粒重测量时期： 室内考种时期。
5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。
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