型号: | MDPspot |
产地: | 德国 |
品牌: | 德国SENTECH |
评分: |
![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
低成本桌面式寿命测量系统,用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作Z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。
MDPspot包括附加电阻率测量选项。只测量硅的电阻,对于没有高度调节可能性的晶片,或者对于砖。这两个选项中的一个是预先定义的。
优势
用于单点测量少子寿命的台式装置,可测量多晶或单晶硅在不同制备阶段,从成长到后面器件。
体积小,成本低,使用方便。附带一个基本软件,用于在小型电脑或笔记本上输出可视化的测量结果。
适用于晶片上的砖,易于进行高度调整。
相关产品
法国 JFP Model S100键合机
2000度真空退火炉/3000度退火炉
日本JEOL电子束光刻机JBX-6300FS
日本JEOL电子束光刻机JBX-9500FS
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统
lakeshore多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM
Janis无液氦超导磁体系统-DryMag
CCS-XG低振动光学低温恒温器Janis
CCS-300S紧凑型光学低温恒温器
CPX多功能低温探针台Lake Shore
CRX-4K无液氦低温探针台Lake Shore
VOYAGER 高性能电子束曝光系统
EBPG Plus 超高性能电子束光刻系统
德国 Raith 电子束光刻机 Pioneer Two
无掩模光刻机/直写光刻机beam-6
关注
拨打电话
留言咨询