薄膜厚度测量系统-MProbe Vis-天津瑞利-Semiconsoft

薄膜厚度测量系统-MProbe Vis-天津瑞利-Semiconsoft

参考价：面议
型号： MProbe Vis
产地： 美国
品牌： Semiconsoft
评分：
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核心参数
天津瑞利光电科技有限公司
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产品详情

Semiconsoft-薄膜厚度测量系统-MProbe Vis

产品型号：MProbe Vis

产品介绍：MProbe Vis薄膜测量系统是紧凑且多功能的台式系统。它可以测量不同基板上10nm – 150μm厚度范围的半透明薄膜。而且，它经济且易于使用。MProbe Vis（X） 的生产版本设计用于承受振动并使用 LAN 连接 24/7 全天运行。它可用于在线和OEM应用。它与洁净室环境兼容。MProbe20 VisX系统是MProbe20 Vis系统的一个版本，在更长的波长（>700nm）下具有更高的灵敏度。

性能特点：

经济且易于使用

参数：

产地：美国

波长范围（可用）：400-1000nm（典型校准范围：380-1050nm）和VisX的450nm -1050nm

波长分辨率：< 1nm，20μm狭缝（整个光谱均匀）

厚度范围 ： 10nm – 150 μm

精度/重复性：<0.01nm 或 0.02%

精度：<1nm或0.2%

测量光斑尺寸：< 1mm（标准）

最小数据采集时间：10 μs

光源：5W TH灯，使用寿命10000小时（可选：20W TH灯，使用寿命2000小时）

通信接口：USB和1Gb LAN

 

 

 


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行业应用
售后服务
  • 产品货期： 30天
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