纳米粒子跟踪分析仪ZetaView-天津瑞利-Particle Metrix

纳米粒子跟踪分析仪ZetaView-天津瑞利-Particle Metrix

参考价:面议
型号: ZetaView
产地: 德国
品牌: Particle Metrix
评分:
核心参数
关注展位 全部仪器
展位推荐 更多
产品详情

产品名称:Particle Metrix纳米粒子跟踪分析仪ZetaView

产品型号:ZetaView

产品介绍

Particle Metrix在其久经验证的平台PMX-x30上提供了ZetaView纳米粒子跟踪分析的多功能性,使仪器可以从一个激光器升级到四个激光器。405488520或640nm激光之间以及散射和荧光模式之间的变化是自动的。

在标准NTA或Z-NTA表面电荷电泳模式中记录发射散射光或荧光的颗粒的运动和图案。PMX-x30系列的新设计带有固定单元组件,将增强的性能和可靠、无误差的测量与简单、快速、轻松的仪器清洁相结合。

性能特点

扫描NTA-通过样品池在11个位置进行自动测量,提供稳健的性能,而不需要额外的附件。

固定单元组件设计-大大提高了性能,减少了出错的可能性。

自动对准和自动对焦-光学设置由软件自动优化,节省了用户准备仪器使用的时间,并消除了用户主观输入的偏见。

快速测量-在60秒内分析2000多个颗粒。

快速简单的清洁-样品之间的清洁只需要快速冲洗。新的固定单元设计允许使用卡口锁快速访问测量单元。

直观的软件-红绿灯系统可以即时指示样品是否处于适合测量的浓度,并指示样品的稀释系数。

紧凑的一体化设计-使用一台仪器测量尺寸、浓度、电位和荧光。兼容实验室环境小占地面积和数据文件。

荧光分析-荧光NTA测量允许询问样品中的亚群体。一个灵敏的CMOS相机,多达11个选择性滤波器,低漂白性能产生高荧光灵敏度。

没有高成本耗材,只有注射器和散射和荧光测量的参考标准(如果适用)。

无需校准-尺寸测量不需要校准。

技术参数

产地:德国

扫描:电动

扫描速度:不到1分钟的时间内采集和分析2000个粒子

测量:极性液体(如水、醇)中的纳米粒子,用于尺寸、浓度、荧光和zeta电位研究

浓度范围:105-109粒/毫升

粒度:10nm-2000nm(取决于样品和激光)

精度:+5nm(适用于100nm聚苯乙烯胶乳)

再现性:t2nm(适用于100nm聚苯乙烯胶乳)

可用激光波长:405nm、488nm、520nm、640nm、660nm

典型激光功率:>30mW

相机类型:CMOS

滤波器:11个

 


天津瑞利光电科技有限公司为您提供纳米粒子跟踪分析仪ZetaView-天津瑞利-Particle Metrix,Particle MetrixZetaView产地为德国,属于光学仪器组件,除了纳米粒子跟踪分析仪ZetaView-天津瑞利-Particle Metrix的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多光学仪器组件,瑞利光电客服电话400-860-5168转6160,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 30天
  • 培训服务: 暂无此项服务

相关产品

天津瑞利光电科技有限公司为您提供纳米粒子跟踪分析仪ZetaView-天津瑞利-Particle Metrix,Particle MetrixZetaView产地为德国,属于光学仪器组件,除了纳米粒子跟踪分析仪ZetaView-天津瑞利-Particle Metrix的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多光学仪器组件,瑞利光电客服电话400-860-5168转6160,售前、售后均可联系。
Business information
工商信息 信息已认证
当前位置: 瑞利光电 仪器 纳米粒子跟踪分析仪ZetaView-天津瑞利-Particle Metrix

关注

拨打电话

留言咨询