高分辩衍射仪

高分辩衍射仪

  • 型号:XPert Pro MRD
  • 产地:荷兰
  • 品牌:帕纳科/PANalytical
  • 性质:生产商
  • 报价:面议

核心参数

产品详情

仪器简介:

X'Pert PRO MRD/XL是高级半导体材料的标准装备,用于: 高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如: 摇摆曲线分析和倒易空间Mapping, 反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析, X'Pert PRO MRD/ XL 满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以满足直径达 300 mm的晶片分析,并有精密的自动晶片装载选择;XL成为薄膜生产发展的先进的分析手段,LED的业界标准。
 
可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如: 
 
·  振动曲线分析和交互空间图
·  反射仪和薄膜相分析
·  残余应力和织构分析
 
同已经证明的标准版本系统一样,还有许多专门的版本: 
 
· X'Pert PRO MRD平面衍射系统,可以测量与样品表面垂直的晶格衍射 
· X'Pert PRO Extended MRD 允许装备 X射线镜像和在线高分辨单色器,增强入射光束的强度。
· X'Pert PRO MRD XL 满足半导体,薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

技术参数:
1,功率:3kW
2,测角仪重现性:0.0001度
3,测角仪类型:T-2T
4,五维样品台

 

高分辩衍射仪信息由马尔文帕纳科为您提供,如您想了解更多关于高分辩衍射仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况

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