2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议举行
导读：2013 年8 月20日，“2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班”在北京举行。
仪器信息网讯 2013 年8 月20日，“2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班”在北京举行，本次会议为期两天。100余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。
本次会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办。
会议现场
北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法介绍说：“作为固体表面分析的重要手段，上个世纪90年代在我国掀起了表面分析技术的研究热潮，当时国内相关会议较多。但近年来，随着表面分析技术的发展成熟，其研究也进入了低谷期，国内已经多年没有召开过相关的会议。”
2012年，清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织了全国表面分析科学与技术应用学术会议，今年是该会议第二次举办。
北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法
朱永法说：“目前全国的表面分析仪器有300台左右，有关表面分析技术的应用研究也比较多。今年在会议组织中我们希望能做的更规范，希望以后每年都能举行一次这样的学术会议，更好的促进同行之间交流与合作，推动表面分析学科及其应用技术的发展以及与其他学科的融合。”
会议的主题报告主要为X 射线光电子能谱法(XPS)、俄歇电子能谱法(AES)、表面增强共振拉曼光谱法(SERS)、扫描探针显微镜(STM)、飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)、辉光放电光谱法、椭偏光度法等表面分析技术手段在材料研究中的应用。值得一提的是，会议报告人不仅有高校科研院所的研究人员，还有来自企业的研究人员，如宝钢集团有限公司中央研究院、东莞新科技术研发有限公司、中国石化上海石油化工研究院等。
本次会议同期还将举行X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班，将进行XPS 中化学信息的抽取及其材料研究应用、XPS 数据的后期处理与(半)定量计算、XPS 谱图解析案例，以及分析设备的维修与维护技巧、多功能XPS 核心部件的维护和维修等内容的介绍。
高校分析测试中心理事会理事长梁齐
据高校分析测试中心理事会理事长梁齐介绍：“从今年起，高校分析测试中心计划举行‘高端分析仪器研修班’，希望帮助大家更好的了解大型仪器的先进技术及应用。第一届研修班以‘透射电子显微镜的前沿技术与应用’为主题，已于七月份在中国科技大学举办，会议得到了很多分析人员的响应，本次研修班是第二届。”
梁齐说：“XPS是目前最主要的表面分析技术手段，以前由于仪器价格贵，国内用户并不是很多，但是目前我们了解到很多高校都采购了仪器。大家对XPS的应用也从常规分析发展到高端分析，比如利用XPS进行mapping、深度剖析、原位分析等。”。
另外，据介绍会议还将对《GB/T 25185-2010/ISO 19318 表面化学分析X 射线光电子能谱荷电控制和荷电校正方法的报告》、《GB/T 28894-2012/ ISO 18117：2009 表面化学分析分析前样品的处理》这两项标准进行宣贯。
表面分析仪器的主要供应商赛黙飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、高德英特(北京)科技有限公司(代理日本ULVAC-PHI产品)、北京艾飞拓科技有限公司(代理德国ION TOF公司产品)、北京精微高博科学技术有限公司等都参加了此次会议，就最新表面分析仪器的最新产品和技术分别作了介绍。
与会人员合影
有关会议主题报告及最新产品和技术进展，敬请关注仪器信息网后续报道。（撰稿:秦丽娟）
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来源于：仪器信息网
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