2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座精彩回放

2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座

     现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为

研究者们提供了分析和操作纳米世界的眼和手。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖

了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感

器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。通过布鲁克2013年原子力显微镜测量技术一系列讲座，

大家已经对AFM的基本原理及成像模式， AFM技术的发展进展，及其最新最先进的应用和功能，有了全面的了解。

        在2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的最后一讲，我们将重点介绍探针的基本信息以及如果合理选

择AFM探针。在AFM的测量以及数据分析过程中，探针有着举足轻重的作用。合理选择探针，可以帮助操作者快速

高效地获得高质量的实验数据。帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧；为用户更深入的研究工

作打下良好的基础。

布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座往期精彩回放：

第一讲 ：原子力显微镜简介及成像技巧(点击观看精彩回放)

主讲人：李永君 博士 报告时间：2013年3月28日

第二讲 ：原子力显微镜在生物学研究中的应用进展 （点击观看精彩回放）

主讲人：龙飞 博士 报告时间：2013年4月16日

第三讲 ：原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展（点击观看精彩回放）

主讲人：仇登利 博士 报告时间：2013年5月21日

第四讲：利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征的最新进展（点击观看精彩回放）

主讲人：孙万新 博士 报告时间：2013年6月25日

第五讲：基于扫描探针显微镜的电学表征技术（点击观看精彩回放）

主讲人：孙昊 博士 报告时间：2013年7月9日

第六讲：如何合理选择AFM探针获取高分辨图像

         主讲人：陈苇纲 博士 报告时间：2013年12月17日

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