JEOL与Gatan联合举办能量过滤分析电镜技术讲座

为了促进国内分析电镜技术的普及， 介绍电子能量损失谱仪硬件及应用发展， 美国 Gatan
公司与日本电子公司将与 12 月 2 日在上海交通大学举办能量过滤分析电镜技术讲座。
本次讲座特别针对能量损失谱仪（Electron Energy Loss Spectrometer--EELS） 技术
及透射电子显微镜技术， 邀请了美国 Gatan 公司、 日本电子株式会社（JEOL Ltd.） 的专
业技术人员， 向大家介绍电子能量损失谱仪及分析型电镜的先进技术， 将最新的信息分享
给国内的电镜用户。
除了国外专家分享电镜技术的发展现状之外， 我们还安排了现场上机演示环节。 包括能量
过滤元素面分布（EFTEM）、 扫描透射(Scanning Transmission Electron Microscopy,
STEM)模式下利用 High-Speed Spectrum Imaging 与 DualEELS 技术进行成分鉴定及
物相分析等先进技术。

上海交通大学购买了两台日本电子的球差校正透射电镜JEM-ARM200F,冷场发射和热场发射各一台，分别安装了聚光镜和物镜球差校正器，都配置了Gatan的EELS系统。