TSI公司参加“中国颗粒学会第九届学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会”

美国TSI公司于2016年8月12-14日，参加了在四川省成都市举办的“中国颗粒学会第九届学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会”。本届会议由中国颗粒学会主办、中国颗粒学会超颗粒专委会协办，500多位来自海峡两岸从事颗粒技术研究的专家学者、工程技术人员、企业界代表等齐聚一堂，畅谈国内外颗粒学研究与技术的最新进展，探讨颗粒行业产、学、研、销等领域如何更好对接。

美国TSI公司于会上针对“1nm大气颗粒物的测量“做了主题报告”并展示了以下多种气溶胶检测技术和设备。

TSI最新推出的SMPS™ 扫描电迁移粒径谱仪，被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪（1nm-DMA）组件后，SMPS粒径谱仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。

3321 空气动力学粒径谱仪(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒径范围粒子的高分辨率、实时空气动力学检测。这些独特的粒径分析仪还检测 0.37 至 20 微米粒径范围粒子的光散射强度。APS 粒径谱仪通过向同一粒子提供成对数据向有兴趣研究气溶胶组成的人士开辟了令人振奋的新途径。

TSI 3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便，能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI公司40年气溶胶仪器设计的经验，本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统，从而得到高质量和高精度的数据。同时，TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性。该产品是广大环境研究机构和环境监测部门进行颗粒物监测分析和源解析的最佳仪器。

关于TSI公司

TSI公司研究、确定和解决各种测量问题，为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者，TSI与世界各地的科研机构和客户合作，确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国，在欧洲和亚洲设有代表处，在其服务的全球各个市场建立了机构。每天，我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。