iCEM 2016特邀报告：低电压扫描电镜技术在材料研究中的应用

第二届电镜网络会议(iCEM 2016)特邀报告

低电压扫描电镜技术在材料研究中的应用

曾 毅 研究员

中国科学院上海硅酸盐研究所

报告摘要：

　　基于曾毅老师长期的扫描电镜工作经验，本次报告将从理论和实际操作两方面探讨低电压扫描电镜在材料领域的应用，主要涉及以下几个方面的内容：

　　1、 低电压扫描电镜的特点是什么?为什么要采用低电压进行扫描电镜观察?

　　2、 为什么现有场发射扫描电镜都具有较好的低电压分辨率(通常优于1.5nm)，但是很多扫描电镜工作者却不愿意或者不敢使用低电压进行观察?

　　3、 如何在低电压下获得高清晰度图像?采用低加速电压进行扫描电镜观察时需要注意什么?影响低电压扫描电镜图像质量的主要因素有哪些?

　　4、 如何利用低加速电压进行介孔材料观察和分析?

　　5、 如何利用低加速电压获得材料真实的显微结构信息?

　　6、 低电压STEM在材料分析中的应用

　　......

报告人简介：

　　曾毅，中国科学院上海硅酸盐所分析测试中心副主任，研究员，博士生导师。主要从事材料显微结构-性能-工艺关系研究，实验室拥有FEI Magellan400, Hitachi SU8220, Hitachi SU4800, JEOL 8100以及JEOL 6700等多台扫描电镜。

　　近年来作为项目负责人承担了863、科技部国际合作专项、中科院重点部署项目、上海市民口科技支撑项目等多项材料表征技术相关研究项目，在国内外学术刊物发表显微结构表征技术论文近90篇。出版《低电压扫描电镜应用技术研究》和《扫描电镜和电子探针的基础及应用》学术专著两部，起草扫描电镜相关国家标准5个。

报告时间：2016年10月25日上午