TA仪器携4款新品亮相Pittcon 2017

　　仪器信息网讯 Pittcon 2017展会(匹兹堡分析化学和光谱应用会议暨展览会)于2017年3月6-10日在美国芝加哥McCormick Place会展中心开幕。作为全球科学仪器行业内历史悠久、规模最大的展会，本届Pittcon2017共设1400个展位，在占地410,540平方英尺的展馆内展出全球工业、学术和政府实验室领域的产品和服务。此次展会吸引了全球28个国家和地区的789家企业参展，其中122家为首次参展。仪器信息网作为合作媒体全程参加了本次盛会。

TA仪器展位

　　借此盛会，作为热分析、流变仪和微量热仪等分析仪器的领先制造商，沃特世公司子公司——TA仪器携多款重磅新品亮相展会，包括全新的同步差示扫描量热仪/热重分析仪- Discovery SDT 650，光学热膨胀仪Dilatometer 800系列全新三款新品：DIL 820，DIL 830和ODP 860等。众多亮点产品引起参会者的广泛关注。

　　差示扫描量热仪/热重分析仪-Discovery SDT：集先进技术于大成

　　据悉，全新的差示扫描量热仪/热重分析仪- Discovery SDT 650在本次展会为首次展出。Discovery SDT 650拥有前所未有的灵敏度、基线稳定性、温度及气氛控制性能。SDT 650是第一台融合所有TA最先进技术的同步热分析仪，包括调制DSC®，调制TGA™，及高分辨TGA™，集先进技术于大成，势必会开拓仪器分析的新领域。SDT 650是唯一能够同时测试热流和热重的系统。另外，SDT 650可以同时做双样品的TGA测试，TA专有的这项技术,将会有力的提高实验室工作效率。

差示扫描量热仪/热重分析仪-Discovery SDT

　　同步热分析仪SDT 650能同时得到样品随着时间和温度变化的热流及重量变化信息。温度范围从室温至1500°C、各种材料均可在SDT 650进行实验，出色地满足生产监控以及科研开发等需求。

　　TA 仪器总裁Terry Kelly评论说:“我们从未有过在一台仪器上赋予如此多的功能，包括最精准的热流、重量测试，最先进的技术以及强大的自动化操作系统。TA自 2016年推出新的Discovery系列以来受到广泛的赞誉，客户表示‘获得优异的数据，从无如此简单过!’ SDT 650势必会成为热分析实验室最强大的分析表征仪器”。

　　SDT 650标配了TA的卧式双杆热天平技术与创新的快速连接杆设计，确保了使用和时间上的灵活性。与所有TA热分析仪器一样，SDT 650测试炉提供5年质保。

　　仪器配置30位的线性自动进样器。该设计坚固可靠并大大提高了实验测试效率，允许用户进行灵活的实验编程、自动无人化操作、仪器自动校准和验证。 此外，SDT 650同时具备Discovery系列独有的功能，包括“一键触碰”式APP设计和强大的控制分析软件TRIOS 。

　　Dilatometer 800系列三款新品：DIL 820，DIL 830，ODP 860

　　3月1日，TA仪器正式推出光学热膨胀仪Dilatometer 800系列的三款新品：DIL 820，DIL 830和ODP 860。由于均采用了TA独有的真差分技术，这些仪器的测量精度比市面竞争系统提高了10倍。基于这些高精度系统设计，该系列产品可用于由动态热事件引起的样本的尺寸变化的精密测量，广泛应用于材料学(陶瓷、金属等)、环境和生产控制过程等领域。

DIL 820，DIL 830和ODP 860

　　DIL 830：用于精确测量尺寸变化的高分辨率水平推杆膨胀仪系列；DIL 820：用于精确烧结研究的创新型垂直推杆膨胀仪系列；ODP 860：多模光学膨胀测量平台，用于样品的无接触测试。

　　三款新品基于专利的光学传感器，可以分析高达1nm分辨率的样品。系统未设温度梯度炉，保证了在最佳温度控制的基础上，减少测试之间的停机时间。

　　TA 仪器的高温产品经理Piero Scotto评价说：“这是市场上最好的膨胀仪。新的系统设计结合众多仪器的核心技术，使得TA成为该产品领域新的市场领导者。”