昆明理工大学“飞行时间二次离子质谱仪”通过验收

　　3月15日，昆明理工大学资产管理处组织专家组，对飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)进行验收。在逐一核实设备部件，配件型号、数量，质量分析器的动态离子能量扩展技术(EDR)后，专家组认为，该设备安装齐全，设备性能和EDR指标均已达到合同指标，通过终极验收。同时，专家组在设备的维护和管理、设备性能的开发利用等方面提出了一些意见和建议。截止目前，学校单价500万元以上的仪器设备已达到5台套。

　　飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)主要用于矿物表面深度剖析、表面化学药剂吸附层厚度、表面微量组分、表面有机物吸附推测、表面3D表征及成像等表面微观研究。在进一步熟练设备操作和性能后，TOF.SIMS-5将正式投入使用，在矿物加工工程、矿物学、材料学、生命科学等专业的实验教学与科研工作中发挥积极作用。