iCEM 2017邀请报告:扫描电镜在岩石矿物分析中的应用
导读：2017年6月21日-23日，仪器信息网将组织举办第三届电镜网络会议(iCEM 2017)，并围绕广大用户感兴趣的技术领域组织报告，涉及原位透射电子显微学技术、高分辨电子显微学技术、材料样品制备技术、EDS/EBSD技术、扫描电镜应用及维护、生物电镜样品制备技术、冷冻电子显微学技术等领域。
iCEM 2017邀请报告:
扫描电镜在岩石矿物分析中的应用
原园 博士
中国科学院地质与地球物理研究所
报告摘要:
扫描电镜中的高能入射电子束轰击样品表面，从样品中激发出各种有用的信息，包括二次电子、背散射电子、X 射线等不同的信号，这些信号分别携带样品的形貌和成分等信息。
利用扫描电镜对新鲜断面样品或是氩离子抛光样品进行二维扫描，可以得到样品中不同矿物的结构形貌和元素成分等信息，进而确定矿物类型；结合分析软件可以对矿物的二维分布、含量、颗粒形态等信息进行提取。扫描电镜和聚焦离子束结合，对样品进行切割及三维重构，可以分析矿物的三维空间分布特征。
报告人简介:
原园，博士，毕业于中国石油大学（北京）非常规天然气研究院，现任职于中国科学院地质与地球物理研究所微纳结构成像实验室。
报告时间：2017年6月22日下午
立即免费报名：http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/
来源于：仪器信息网
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