扫描探针显微镜SPM (Scanning Probe Microscope)是各种新型探针显微镜的统称,如扫描隧道显微镜 STM(Scannning Tunneling Microscope),原子力显微镜 AFM(Atomic Force Microscope), 磁力显微镜 MFM (Magnetic Force Microscope),摩擦力显微镜LFM (Lateral Force Microscope)及开尔文探针力显微镜 KPFM (Kelvin Probe Force Microscope)等等。 SPM 作为一项表面分析技术,不仅可以在纳米甚至原子级别分析样品表面三维形貌(横向分辨率 0.1 nm,纵向分辨率 0.01 nm),还可以表征多种物理性质,如粘弹性,摩擦力,电学及磁学性质等等。除了卓越的形貌分辨率及多功能化外,SPM 还可以在多样的环境中表征,如真空环境,大气环境,液态环境甚至低温,常温及高温环境下,均可运行。因此,SPM 被广泛应用于物理,化学,材料,微电子,生物及医药等等科学领域的研究。
岛津公司作为世界著名的分析仪器厂商,在 SPM 研究开发领域,不断精益求精,锐意进取。从 SPM9500,SPM9600,SPM9700 到 SPM-8100FM,取得了极大的突破。最新的 SPM-8000FM 采用反馈更迅速的调频模式,极大地提高了SPM 在大气环境和液体环境的分辨率。为了更好地服务于岛津扫描探针显微镜 SPM 客户,我们汇总了各个学科领域的研究应用,以供阅读。
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