8月29日,第七届中国国际纳米科学技术会议(ChinaNANO)在北京召开,HORIBA Scientific 赞助并应邀出席。自05年首届举办后,中国国际纳米科学技术会议已经发展成为具有较强世界影响力的综合性品牌国际会议。
本次大会碳纳米管分会,HORIBA 资深工程师丁欣为大家带来报告:Tip enhanced optical spectroscopy,详细介绍了针尖增强拉曼光谱(TERS)技术在碳纳米管和其他二维材料中的应用。
传统显微拉曼能够提供接近光学衍射限的亚微米级空间分辨率,使用同区域成像可在同一系统上获得拉曼成像图和AFM图(形貌、相位、电学等)。HORIBA AFM-Raman联用系统在实现同区域成像的同时,可以获得纳米尺度下的化学信息和物理信息,为纳米级光学世界提供解决方案。
HORIBA 工程师丁欣
会场外 HORIBA 也特别展出了SZ-100纳米粒度仪,并专设技术人员交流答疑。纳米科技的研究与发展是一个永不停歇的追求,从分子到原子水平对样品粒径进行控制,可以获得更新、更好、更先进的材料和产品,SZ-100系列纳米粒度仪可提供精细粒度检测,助力纳米科技研究。
HORIBA展台
大会共计有来自全球30多个国家和地区的2000多名代表出席,HORIBA 高品质科学仪器和全方位的产品介绍获得与会者的一致好评。
如果您想了解更多关于此次推介产品的信息,可以点击此链接:http://www.horiba.com/cn/scientific/products/ 获取详细资料!
HORIBA科学仪器事业部
结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
来源于:HORIBA 科学仪器事业部
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