兹真诚邀请您参加瑞士华嘉公司于2008年4月8日举办的仪器应用与技术讲座。
交流会主讲人:
德国Kruss公司的资深专家Dr.Udo Ohlerich,针对表面及界面现象研究和开发的最新进展情况进行介绍。
粒度测量与分析技术专家 魏延喜先生,介绍最新粒度测量和分析技术,及最新型Zeta电位测量仪。
此外,本次会议致力于成为一个交流的平台,特邀请北京及周边地区的相关专家和研究人员,相互交流,提高应用水平,希望能相互增进了解,有进一步合作的机会。欢迎您参加此次会议。
时间:2008年4月8日9:00-17:00,星期二
地点:北京化工大学科技会议中心
附:会议日程安排:
09:00 华嘉公司简单介绍
09:30 表面化学领域研究技术介绍
10:30 茶歇
10:50 Microtrac激光粒度仪专利技术介绍
11:30 KRUSS公司新产品发布和展示
12:00 午餐
13:30 表/界面技术的广泛应用交流与介绍
14:30 Microtrac公司新产品Zeta电位仪发布
15:30 茶歇
15:45 德国Anatech在线图像粒度分析技术介绍
请有兴趣参加2008年4月8日在京举办的仪器应用与技术讲座的用户,下载参会回执。
http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100150/downloadlist.asp?id=64620