“2009帕纳科科技日”活动纪实

　　2009年7月10 日，一年一度的帕纳科科技日活动于北京举办，来自钢铁、地质、水泥等领域的专家、用户共80多人参加了此次技术交流会，仪器信息网作为特邀媒体也参加了此次活动。

交流会现场

　　帕纳科公司中国区总经理薛石雷先生首先致欢迎词，对与会的专家、用户表示感谢。

帕纳科公司中国区总经理 薛石雷先生

　　帕纳科公司荷兰总部全球应用中心的肖又红博士介绍帕纳科最新推出的“新一代XRF无标样定量软件--Omnian”。Omnian于2009年3月全球首次推出，是帕纳科公司独有的技术，此软件适用于顺序式波长色散XRF分析仪;可以对大多数未知类型的材料进行全定量分析，并且每次能得到正确的结果;可以进行定量分析、研发分析、失效分析、比较分析等。

帕纳科公司荷兰总部全球应用中心 肖又红博士

　　肖又红博士详尽介绍Omnian软件的特点之后，与帕纳科公司上海应用实验室的张华博士合作，通过无线网络，使与会者在会议现场即可同步观看上海应用实验室内的Omnian软件操作过程。

无标样定量软件Omnian远程应用演示

　　照片中，左面屏幕显示的是上海应用实验室张华博士操作仪器做样的画面;右面屏幕显示的是Omnian软件的界面，样品峰、结果实时显示。

　　能量色散型X射线荧光光谱技术近年来得到了飞速发展，使得XRF由传统的应用领域拓展到了许多新的领域，如环保、食品、玩具、药检、现场检验等，来自帕纳科亚太区XRF产品经理Lieven Kempenaers博士对此做了精彩的报告。

帕纳科亚太区XRF产品经理 Lieven Kempenaers博士

　　交流会期间，部分与会者就自身在测试工作中遇到的问题提问，帕纳科应用专家一一解答，现场交流讨论的气氛热烈。为期一天的帕纳科科技日活动很快结束了，但自2005年帕纳科上海应用实验室创办以来，每年定期举办的科技日技术交流活动已成为应用实验室与国内X射线分析仪器的技术人士的一个良好的交流平台，对促进X射线分析技术在中国的发展有着非常有益的作用。