天瑞赞助食用农产品安全检测会即将召开

      天瑞仪器 2009年全国食用农产品安全及品质检测技术研讨会将于2009年9月24日－9月25日在广西桂林山水大酒店举办。 
      近年来，随着世界经济发展，各国对食品安全问题高度重视，面对农产品食品国际贸易残留限量门槛越设越多，越设越严的严峻形势，以及国际贸易快节奏、高效率的发展，必然对检测技术的高灵敏度，高分辨率、高选择性、高通量提出更高的要求和挑战。此种情况下，我司与中国仪器仪表学会联手举办了此次“天瑞仪器 2009全国食用农产品安全及品质检测技术研讨会”，就如何应对挑战，加强农产品食品安全管理，提高食用农产品检测技术水平等问题进行深入的交流与探讨。 
       9月23日为全天接待注册时间，与会期间，业内专家将介绍我国食用农产品质量检测技术现状及对仪器的需求；制造商介绍新产品、新技术，同时，本次交流会也欢迎行业内的热忱之士宣读自己的科研成果、考察报告等，从而达到更加广泛的交流。会议还安排了分组讨论、实地参观和集体活动，相信会给与会代表一段不错的学习交流经验和愉悦的时光。
本次会议上，天瑞仪器会向广大客户展示我司的最新研制成功的SUPER XRF 1000超级X荧光分析检测仪器，其性能超出普通检测仪器10倍以上，对高性能仪器有兴趣的客户可多留意获取本公司关于此型号仪器的介绍资料。 
      天瑞仪器作为会议的独家金牌赞助商，将于会议期间设置展台，在此我们诚挚邀请国内专家参加本次会议及随后的相关系列活动，与全球专家们一起分享食品安全领域的最新研究进展和发展方向、新技术应用的经验，增进相互的交流与合作。相信会是一次非常难得的学习与交流体验。 
       
      了解天瑞仪器http://www.skyray-instrument.com