HORIBA Scientific诚邀您参加第五届椭圆偏振光谱国际会议

    2010 年 5 月 23 日- 28 日，第五届椭圆偏振光谱国际会议(ICSE-V,International Conference on Spectroscopic Ellipsometry)将在美国纽约州奥尔巴尼市（Albany）奥尔巴尼大学纳米科技与工程学院(CNSE)举办。
    和历届会议一样，为椭圆偏光术和相关测量技术领域的科学家和工程师提供国际交流的平台。ICSE-V 会议将为您展示椭圆偏振光谱技术和应用的新研究进展，包括涉及偏振技术开发的相关光谱分析技术等。
                                                                                                                                                                         >>>>更多信息: http://www.icse-v.org/web/index.php
向世界同行展示您的工作！
HORIBA Scientific（Jobin Yvon 光谱技术）诚邀 Jobvin Yvon 椭偏仪用户提交会议摘要并参加第五届椭圆偏振光谱国际会议(ICSE-V)！
摘要提交起讫时间: Oct.19—Dec.6, 2009
HORIBA Jobin Yvon 赞助
HORIBA Scientific 承诺赞助参与展板展示（poster presentation）或口头报告（oral presentation）的 Jobvin Yvon 用户。
申请赞助，请联系 ：tfd-marketing.sci@horiba.com
应用支持，请联系： tfd-sales-sci.fr@horiba.com