北京精微高博参加2010年国际展

　　北京精微高博科学技术有限公司是中国专业生产、研发及销售比表面及孔径分析仪的最大厂家，其产品凭借高科技、高质量与高标准，叩开了国际市场的大门。2010年2月17日～2月19日，参加了国际纳米技术展览会(International Nanotechnology Exhibition and Conference);2010年3月3日～3月5日，在日本参加了国际充电电池博览会(International Rechargeable Battery Expo)。

　　作为国产仪器厂商，精微高博公司展示了自主研发的高端分析型产品(JW-2324w和JW-2224)。JW系列比表面及孔径分析仪已达国际先进水平，测试范围广，重复性好，精确度高。

　　JW-2324w比表面及孔隙率分析仪在以下三个方面都有突破性的改进：1. 微孔分析方面：P/Po在0—0.12之间的等温吸附曲线，不小于30个压力点;孔径范围在0.35—2nm之间的孔径累积分布、微分分布及最可几孔径;有特殊的双级真空系统;2. 结构与控制方面：压力点可任意设置，压力点数量无上限限制;平衡时间可自动判断与控制;气压升或降的速度控制精细、精确、平稳、可靠;液氮面高度可自动调节与补偿;具有Po值的测定与调节技术;3. 分析软件方面：包括BET, Langmuir ,BJH , D&R, T-Plote, MP, HK, SF等。

　　JW-2324w和JW-2224型比表面及孔隙率分析仪是本类展品中的一大亮点，吸引了来自世界各地的客户前来展台参观咨询，展出质量很高，赢得了业界人士高度赞许。