JASIS 2018新品发布之ELIONIX公司：纳米压痕仪

　　仪器信息网讯 2018年9月5日，日本最大规模的分析仪器展JASIS  2018在东京幕张国际展览中心盛大开幕，吸引来自全球各地的万余名观众参观出席。

　　作为国际知名电子束曝光系统(EBL)生产商，Elionix在展会期间带来其纳米压痕仪新品——ENT-NEXUS。

ELIONIX公司纳米压痕仪

      Erionix新的ENT系列，ENT-NEXUS上市，采用允许自由组合框架和单元的模块配置，可以进行各种测量，例如纳米压痕测试和表面力测量。(最多两种类型的可安装单元)

　　产品特点包括：高数据再现性，实现了高稳定性S/ N系统，即使在超小负载范围内也可以进行具有良好再现性的测试;测量环境管理组织，在纳米压痕测试中，由于样品本身和样品本身的温度变化引起的热漂移是一个严重的问题，为了最大限度地减少由于热漂移对测量的影响，屏蔽罩内的温度控制在±0.1°C;高性能防振台安装，主动控制的高性能防振台是标准配置;出色的可操作性，采用易于操作的软件，因为只需设置测试条件即可实现全自动测量，即使是初学者也可轻松操作而不会出现人为错;突破模块配置等。