JASIS 2018新品发布之大塚电子：测厚仪和粒度仪

　　仪器信息网讯 2018年9月5日，日本最大规模的分析仪器展JASIS 2018在东京幕张国际展览中心盛大开幕，吸引来自全球各地的万余名观众参观出席。

　　作为用于光学特性评价?检查的装置制造商，大塚电子在展会期间带来其测厚仪新品和粒度仪新品——nanoSAQLA。

大塚电子非接触光学测厚仪

　　是一种旨在缩短检测过程的装置，无需校准曲线，容易测得绝对厚度。基于其独特的光谱干涉方法，可以在短时间内非接触地轻松测量厚度(10μm至5 mm)，且外形紧凑，占用空间小。主要特点包括： 可以无接触地测量不透明、粗糙表面、易变形的样品;高重复性·再现性;无需校准曲线测得绝对厚度;由于测量直径非常小，因此不受不均匀性的影响;不必调整样品的位置，可以通过“单独放置”来测量;由于稳定性高，操作简单;是一个光学系统，更安全。

大塚电子多检体纳米粒度检测系统nanoSAQLA

　　nanoSAQLA为动态光散射法(DLS法)的粒度测量(粒径0.6nm-10μm)仪器。配置了进一步追求质量控制需求的各种功能。

　　实现了一种新的光学系统，兼容多种样品测量，从稀到浓的更广泛样品浓度范围，轻巧紧凑，适合实验室使用，标准为1分钟高速测量。此外，对于非浸入式样品，“5样品连续测量”配置为无自动进样器的标准设备。主要特点包括：使用一个装置轻松进行五样品连续测量;广泛浓度范围样品检测系统;高速测量，标准测量时间为1分钟;简单的测量功能(测量一键完成);配备温度梯度功能。