彼奥德技术总监杨正红先生作为中国代表团出席第56届ISO/TC24/SC4国际标准化会议

 

国际音乐之都，以阿尔卑斯山脉及优美自然环境享誉盛名的奥地利，于2019年4月迎来来自世界各地的60余位专家委员相聚一堂。国际标准化组织颗粒表征筛分法以外的粒度分析方法技术委员会(iso/tc24/sc4)第56次会议于4月12-13日在山城格拉茨举行，对颗粒表征技术的国际标准进行制定与修订。 

颗粒表征国际标准制定及修订

彼奥德技术总监仪思奇(北京)科技发展有限公司总经理杨正红先生，作为中国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会委员(sac/tc168)，参加中国代表团并出席本次会议，代表中国参加：

第3工作组(wg3,孔径分布和孔隙率)

第8工作组(wg8,图像法粒度分析)

第14工作组(wg14,超声法粒度分析)

第17工作组(wg17,zeta电位测定方法)

等相关领域的标准讨论和修订。

杨正红先生成为iso/tc24/sc4注册会员 

杨正红总经理欧洲之旅
 

杨正红先生在德国参加全球规模最大的粉体机械加工及分析技术展(powtech 2019)之后，前往奥地利参加iso会议。

会议期间，杨正红先生与iso官员dr.matthias thommes教授(埃尔朗根-纽伦堡大学,fau,图左)和dr.andrei dukhin(美国分散技术公司ceo,图左右)进行了学术交流，并就对中国用户的超声粒度分析应用支持达成一致。