专家报告视频-吴正龙(北京师范大学)-光电子能谱（XPS）定量分析综述

5月8日，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办，为期一天的“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”主题网络会议圆满落幕！会议为广大网友提供了一个免费学术交流平台，进一步拓展表面科学技术的应用领域。

会议特别邀请到清华大学李景虹院士、中国科学技术大学朱俊发教授、中国科学院兰州化学物理研究所毕迎普研究员、中国计量科学研究院王海副研究员、中国科学院化学研究所刘芬研究员、北京师范大学吴正龙教授级高工等6位表面分析领域大咖及3家仪器厂家进行了报告分享，国家电子能谱中心副主任姚文清老师主持会议。

会议受到了5000余人次的关注，同时与蔻享学术共享平台合作实时同步转播，参会人数累计超过4000人次。创历届新高！

北京师范大学 教授级高工 吴正龙

报告题目：光电子能谱（XPS）定量分析综述

报告中，吴正龙高工综述了相关国标的具体流程和实操方法：样品处理、实验参数、强度测量、定量方法等。报告内容通俗易懂，结合实际，有助于理解、掌握、使用标准，规范定量测试流程，提高结果的一致性和准确性。

报告视频：