布鲁克推出用于初级扫描电镜的e-Flash XS EBSD探测器

布鲁克推出新型电子背散射衍射（EBSD）探测器e-Flash XS，首次实现在台式和其他小型的初级扫描电子显微镜（SEM）中进行晶体材料微观结构的表征。e-Flash XS是目前可用的最小、最轻的EBSD探测器，且性能优异，其创新的设计正在申请专利。e-Flash XS探测器非常适用于不需要使用高端场发射SEM（FE-SEM）的常规EBSD分析。

e-Flash XS旨在提供高的可靠性、易用性和EBSD图案质量，配备具有720x540像素分辨率的新型CMOS相机，能够在2x2到6x6的合并模式下使用。结合可实现高透光率和高性能的创新型光学系统和用户可更换的荧光屏，即使在中等电子探针电流下，相机也能以高达525帧/秒的速度获取图案。其用于供电和数据传输的USB3.0接口使e-Flash XS成为真正的即插即用工具。当不使用时，用户可以轻松地将EBSD检测器的in-SEM部分取出以进行外部存储，从而消除SEM样品台与探测器碰撞的风险。

新的e-Flash XS EBSD探测器与专门设计的XFlash®EDS探测器结合提供，二者完全集成在布鲁克的ESPRIT 2软件套件中，从而创建了新的QUANTAX ED-XS，这是一种功能强大且价格适中的EDS和EBSD组合包，适用于入门级SEM中的材料表征。QUANTAX ED-XS提供了用于定性和定量EDS和EBSD分析的全部功能，而布鲁克的标准EDS和EBSD附件则适用于高端SEM。直观且功能强大的ESPRIT 2用户界面可实现非常高效的工作流程，以结合EDS和EBSD进行数据采集、处理和评估，并提供多种数据表示选项。一键访问高级工具和集成自动化功能，使专家和经验不足的用户都能从中受益。ESPRIT 2凭借卓越的索引速度（每秒高达60,000个方向），还可以在几秒钟内离线重新评估EBSD数据集。

“我们很高兴能够开发出市场上高可靠性、价格优惠且不牺牲性能的EBSD探测器。” 布鲁克Nano Analytics部门EBSD高级产品经理Daniel Goran博士说到，“随着新型e-Flash XS的推出，我们相信布鲁克可以通过为研究和工业领域的台式和初级SEM用户提供广泛的社区支持，为加快科学技术进步做出重大贡献。为了从EBSD分析的功能中受益，该技术过去只保留给更昂贵的高端SEM。”