Ondrej Krivanek出生于布拉格,于1960年代后期移居英国,并在利兹大学获得学位,然后移居剑桥,与Archie Howie一起在电子显微镜领域攻读博士学位。
剑桥大学毕业后,Ondrej Krivanek在京都、贝尔实验室和加州大学伯克利分校担任博士后职位。在伯克利任职期间,他对电子能量损失光谱学产生了兴趣,并建立了自己的光谱仪。他于1980年成为亚利桑那州立大学国家科学基金会NSF HREM设施的助理教授兼副主任,与此同时,他开始与Gatan公司合作,首先是担任顾问,然后永久加入公司并成为其研发总监。
1995年,他获得皇家学会的资助返回剑桥,与Mick Brown和Andrew Bleloch合作进行电子透镜像差校正。他的成就帮助他与Niklas Dellby于1997年创立了Nion公司,他目前仍是该公司的总裁。在Niklas Dellby和IBM的Phil Batson协助下,他通过扫描透射电子显微镜获得了亚埃的分辨率,该成果于2002年发表。
Ondrej Krivanek是电子显微镜和电子能量损失光谱学的知名专家之一。他获得了许多奖项,包括Duddell Medal和英国物理学会奖,以及国际显微镜学会联合会的Cosslett Medal。他是皇家学会,美国物理学会,美国显微学会和美国物理学会的会员,也是皇家显微学会的名誉会员。他与Maximilian Haider、Knut Urban、Harald Rose一起获得了2020年度科维理奖(Kavli Prize)。