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安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

北京安洲

2020.11.17 点击0次

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安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

2020年11月11～13日，由中国光学工程学会主办，中南大学、复杂航空系统仿真重点实验室、北京安洲科技有限公司参与联办的“2020新材料与低可探测技术及应用学术研讨会”在湖南长沙成功举办。


安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

图为会议现场


会议旨在分析国内低可探测前沿技术发展态势，研讨当前技术发展的问题及关键技术发展方向，提高低可探测防护与技术水平。来自地方政府、各军兵种、军工科研院所、高校、企业等各领域专业人员200余人莅临现场参与研讨，经过三天时间的深入交流，增进了行业内部技术信息流动，促进了低可探测技术领域“产-学-研-用”一体化良性发展。


安洲科技应邀参加了本次盛会,同时借此机会向大家展示了美国SOC ET10、ET100红外发射率测量仪、410-Solar太阳光谱发射率测量仪等一系列国际先进科研仪器。




安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

#ET100、ET10红外发射率/反射率

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点，可测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。

ET10 高精度便携式发射率测量仪可测量20度入射角，2个光谱波段发射率；可测量任何不透明材料的发射率。

410-Solar 便携式反射率测量仪

安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。



安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会



SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。


安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

SOC-200 是一款高精度科研级BRDF测量系统，可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF，实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数（BRDF）制图。

安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会
以上设备在低可探测技术领域具有广阔的应用前景，受到了与会相关行业业内专家的广泛关注，并就仪器的性能和应用进行了交流。



来源于：北京安洲科技有限公司

反射率测量仪

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2020年11月11～13日，由中国光学工程学会主办，中南大学、复杂航空系统仿真重点实验室、北京安洲科技有限公司参与联办的“2020新材料与低可探测技术及应用学术研讨会”在湖南长沙成功举办。


安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

图为会议现场


会议旨在分析国内低可探测前沿技术发展态势，研讨当前技术发展的问题及关键技术发展方向，提高低可探测防护与技术水平。来自地方政府、各军兵种、军工科研院所、高校、企业等各领域专业人员200余人莅临现场参与研讨，经过三天时间的深入交流，增进了行业内部技术信息流动，促进了低可探测技术领域“产-学-研-用”一体化良性发展。


安洲科技应邀参加了本次盛会,同时借此机会向大家展示了美国SOC ET10、ET100红外发射率测量仪、410-Solar太阳光谱发射率测量仪等一系列国际先进科研仪器。




安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

#ET100、ET10红外发射率/反射率

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点，可测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。

ET10 高精度便携式发射率测量仪可测量20度入射角，2个光谱波段发射率；可测量任何不透明材料的发射率。

410-Solar 便携式反射率测量仪

安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。



安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会



SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。


安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会

SOC-200 是一款高精度科研级BRDF测量系统，可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF，实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数（BRDF）制图。

安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会
以上设备在低可探测技术领域具有广阔的应用前景，受到了与会相关行业业内专家的广泛关注，并就仪器的性能和应用进行了交流。