重磅阵容！第五届表面分析技术应用论坛来了
导读：“第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱（XPS）国家标准宣贯会”网络研讨会将于6月3日举行。
第五届表面分析技术应用论坛
暨X射线光电子能谱（XPS）国家标准宣贯会
随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。同时，伴随着国家法制的逐步完善以及有关政策的发布，我国分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系也在逐步建设完善。而标准是经济活动和社会发展的技术支撑，是国家治理体系和治理能力现代化的基础性制度。
为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办的“第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱（XPS）国家标准宣贯会”网络研讨会将于6月3日举行。
此次网络大会通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。
一、 主办方
国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心
北京理化分析测试学会表面分析专业委员会
中国分析测试协会高校分析测试分会
全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会
仪器信息网
二、 会议时间
2021年6月3日，8:30—17:30
三、 支持厂商
赛默飞、高德英特
四、报告日程
主持人：清华大学 姚文清 高工
报告时间 | 报告题目 | 报告嘉宾 |
8:30-9:00 | 中国分析测试标准化进展 | 清华大学 李景虹 院士 |
9:00-9:30 | 仪器分析测试标准化工作进展及发展趋势 | 中国计量科学研究院 李红梅 研究员 |
9:30-10:00 | 微束分析标准化与国际标准制定 | 中科院化学所 赵江 研究员 |
10:00-10:15 | 待定 | 高德英特 |
10: 15-10:30 | 茶歇 | |
10: 30-11:00 | 高效高值的光催化制氢过程 | 国家纳米中心 朴玲钰 研究员 |
11:00-11:30 | 光催化体系光生电荷定向转移的表界面调控 | 吉林大学 谢腾峰 教授 |
11:30-12:00 | 利用表面表征技术解析分子内的电荷输运特性 | 清华大学 李远 副教授 |
12:00-13:30 | 午休 | |
13:30-14:00 | 1. GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 | 清华大学 姚文清 高工 |
14:00-14:30 | 1. GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及 其束流或束流密度测量方法待定 2. GB/T 32999-2016 表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率 | 北京大学 谢景林 教授级高工 |
14:30-14:45 | XPS在先进功能材料中的应用 | 赛默飞世尔 |
14:45-15:15 | 1. GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告 2. GB/T 28892-2012表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 化学所 刘芬 副研究员 |
15:15-15:45 | GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 | 石油化工研究院 邱丽美 高工 |
15:45-16:00 | 茶歇 | |
16:00-16:30 | 1. GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 2. GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法定 | 化学所 赵志娟 高工 |
16:30-17:00 | 1. GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 2. GB/T 28893-2012表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 北京师范大学 吴正龙 教授级高工 |
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报告嘉宾阵容：
来源于：仪器信息网
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