赛默飞世尔宣布推出新一代X射线检测系统

　　为了适应工业生产对于使用X射线类仪器检测外源性物质及一般性检测的需求，赛默飞世尔科技发布了Xpert C400，它是赛默飞世尔科技新一代X射线检测系统系列产品中的第一款，可用于污染物质检测及产品检验。

　　现在市场急需使用X射线检测外源性物质或进行一般性的检测。很多主要的食品零售商都被要求在产品上架前必须使用X射线进行检验。例如GFSI(全球食品安全倡议)和美国食品安全现代法案都要求在食品检测中使用X射线技术代替金属探测法。

　　为了适应这种需求，赛默飞世尔科技公司发布了Xpert C400，其具有极高的灵敏度和高耐受性的特点，满足了用户对检测标准的高要求。与此同时，Xpert C400 还可降低检测成本。

　　Xpert C400可以非常方便地检测金属、玻璃、高密度塑料等包装材料及包装食品中的其他污染物。它也可以通过分析X射线图像估计重量、填充和计数，或确认产品是否在包装内。该系统的高灵敏度检测器可以提供多种分辨率(0.8/0.4毫米)，它还有一整套的计算方法来判断复杂图像中异常点所代表的污染物。该系统采用低功耗的X射线源(85W)不仅降低了系统的屏蔽需求，而且在检验中也很容易穿透一些典型的被检产品。

　　基于整体系统的设计和组件质量的提升，Xpert C400可以保证一年365天时刻在恶劣环境下进行工作。经过测试，Xpert C400完全符合IP65的防尘防水标准，可在5°C到40°C的温度范围内工作。由于其模块化标准设计,以及内置的远程支持性能，技术人员可以快速进行故障检测和维修,减少停机时间。赛默飞世尔将在2011年9月26-28日，在拉斯维加斯会议中心召开的美国国际包装工业展展会上展出Xpert C400。