麦克颗粒表征与技术系列研讨会圆满成功
2011年7月19日-7月25日，麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会分别在中山大学、武汉理工大学、南京大学、浙江大学隆重召开。此次系列研讨会吸引众多学校以及研究所教授约200位专家学者参与了此次大会。
颗粒与表征研讨会现场
麦克仪器资深专家在研讨会现场讲演
更多产品请登陆麦克官网：www.mic-instrument.com.cn；
美国网站：www.micromeritics.com
麦克热线：400-630-2202
来源于：美国麦克仪器公司
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